歐姆龍成功事例 | IC芯片浮起的穩定檢測方案

應用介紹

【行業】SEMI

【設備】測試分選機

【用途】用于將IC芯片按照要求進行分類和分選

應用場景

tray盤內IC芯片的浮起檢測。

解決課題

1、需要滿足設備的小型化設計，達到省空間的目的。

2、實現對于芯片1mm浮起的穩定檢測。

價值提案

核心產品：智能激光傳感器 E3NC

價值點1.

備有網絡型放大器，方便導入并監控傳感器實時狀態。同時，放大器采用分離設計，既保證了檢測頭的體積小，也可在不同環境下調整放大器設置。

價值點2.

1級激光光源，1m檢測距離時的2mm光斑大小，確保IC芯片微小浮起的穩定檢測。

相關產品

智能激光傳感器E3NC

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3316/

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